परीक्षाफलमा देखिएको त्रुटिमाथि छानबिन हुने

news

काठमाडौं, असार ११ । माध्यमिक शिक्षा परीक्षा (एसइई) को परीक्षाफलमा देखिएको प्राविधिक त्रुटिका विषयमा छानबिन हुने भएको छ ।

शनिबार सार्वजनिक कक्षा–१० को परीक्षाफलमा प्राविधिक गडबडी भएको पाइएपछि केही विद्यार्थीको नतिजामा आइतबार ‘ग्रेड’ वृद्धि भएको थियो ।

राष्ट्रिय परीक्षा बोर्ड मातहतको परीक्षा नियन्त्रण कार्यालयका नियन्त्रक अम्बिकाप्रसाद रेग्मीले प्राविधिक त्रुटि सुधार गरी विद्यार्थीलाई वास्तविक ग्रेडसिट उपलब्ध गराइएको र छानबिनका लागि शिक्षा, विज्ञान तथा प्रविधि मन्त्रालयमा पठाइएको जानकारी दिए । रासस

इमेजखबर एपबाट खोल्नुहोस् । एन्ड्रोइड डाउन्लोडका लागि यहाँ र आइफोनका लागि यहाँ क्लिक गर्नुहोस् ।

प्रतिक्रिया

Loading...